Клиенты и партнеры НАНО технологии Портфолио и квалификация
Тренинги и обучение Решения и услуги Вопросы-ответы
IT Глоссарий Карта сайта


Важный материал:

Наши партнёры:

UML2RU
UML2RU

Наша рассылка:

СМ-Консалт









Нанотехнологический комплекс "УМКА"

Поставка, обучение и последующее сопровождение туннельного сканирующего нано технологического комплекса"УМКА"Нанотехнологическое оборудование "Умка"

 

 

Оглавнение

Созданный на основе сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) нанотехнологический комплекс (НТК) «УМКА» предназначен для проведения демонстрационных, исследовательских и лабораторных работ на атомно-молекулярном уровне в области физики, химии, биологии, медицины, генетики и других фундаментальных и прикладных наук, в том числе, технологических работ в сфере наноэлектроники.

«УМКА» является прекрасным инструментом для обучения современным практическим методам работы с наноразмерными структурами. Комплекс может быть также с успехом использован для исследований  в научных и промышленных лабораториях.

Технические характеристики НТК «УМКА»

 Разрешение
 атомарное, молекулярное
 Размер образца (мм)  8 х 8 х (0,5…4,0)*
 Поле сканирования (мкм)  5 х 5 х 3
 Шаг сканирования в плоскости образца в полном поле/ в режиме 1:10, (нм)  0,08/0,008
 Диапазон высот (мкм)  1± 0,2
 Шаг измерения по вертикали (нм), не хуже  <0,02
 Шумы:
 по X и Y :                                                       - в полном поле
                                                                      - в режиме 1:10
 0,15 нм
 0,02 нм
 по Z  0,04 нм
 Устанавливаемые параметры:
 - напряжение на туннельном зазоре (В)  0 ±  2,3
 - туннельный ток (пА)  60 … 5000*
 Шаг задания (измерения) напряжение туннельного зазора (мВ)  0,04
 Параметры сигнала для модуляции туннельного промежутка:
 - форма сигнала  Произвольная программно задаваемая
 - частота (кГц)  10 … 100
 - глубина модуляции (пм)  ± (1...100)
 Время сканирования кадра 3*3 нм с атомарным разрешением, не более  < 7 сек
 Время сканирования кадра 5*5 мкм, не более  < 4 мин
 Время выхода системы на рабочий режим, не более  <2 мин
 Режимы работы:
 - режим сканирования по постоянному току;
 - режим сканирования с постоянной высотой;
 - режим измерения шумовой характеристики поверхности;
 - режим измерения вольт-амперной характеристики поверхности;
 - режим измерения h-амперной характеристики поверхностию
 * - Параметры могут изменяться по согласованию с заказчиком

Галерея изображений, полученных с помощью комплекса  «Умка» (файл объемом 3,5 Мб .)

По своим техническим характеристикам комплекс «УМКА» соответствует лучшим СТМ, представленным на международном рынке, однако значительно проще в обслуживании и дешевле. Это создает реальные предпосылки для массового внедрения комплекса, как в сферу подготовки профессиональных кадров, так и во многие отрасли российской промышленности с целью их технологического перевооружения, отвечающего современным требованиям научно-технического прогресса. Около ста комплексов «Умка», поставленные в ряд ВУЗов, академических институтов и отраслевых НИИ, уже зарекомендовали себя с самой лучшей стороны, позволив получить научные результаты высокого уровня. 

УМКА-02-Е

 Рабочая камера работает в атмосферных условиях
 «Низкотоковая» модель  УМКА-02-L  Для биологических объектов
 «Газонаполненная» модель  УМКА-02-G  Рабочая камера может иметь атмосферу, необходимую пользователю

Области применения


Обладая выигрышным для пользователей соотношением
ЦЕНА-КАЧЕСТВО-УДОБСТВО И ПРОСТОТА ИСПОЛЬЗОВАНИЯ,
НТК «УМКА» конкурентоспособен как на отечественном, так и международном рынках.
Около ста комплексов «Умка», поставленные в ряд ВУЗов, академических и отраслевых институтов,
зарекомендовали себя с самой лучшей стороны,
позволив получить исследователям научные результаты высокого уровня.

Основные достоинства

Минимальный комплектпоставки НТК «УМКА»

Производимые сопутствующие товары

Дополнительные материалы

03.02.2009


Copyright © 2009 СМ Консалт | | www.cmcons.com | Карта сайта Rambler's Top100