Клиенты и партнеры НАНО технологии Портфолио и квалификация
Тренинги и обучение Решения и услуги Вопросы-ответы
IT Глоссарий Карта сайта


Важный материал:

Наши партнёры:

UML2RU
UML2RU

Наша рассылка:

СМ-Консалт









Умка-02-G

Поставка, обучение и последующее сопровождение туннельного сканирующего нано технологического комплекса"УМКА"Нанотехнологическое оборудование "Умка"Предлагаемые модели комплекса «УМКА»

"Умка-02-G"- модификация комплекса "Умка-02-Е", специально разработанная для исследования объектов в атмосфере инертных или неагрессивных газов с контролируемыми параметрами (температура, влажность и т.д.)

Комплекс также может использоваться для исследования быстроокисляемых поверхностей и поверхностей с высокой адгезией.

Купить в магазине

Основные достоинства:

  • высокая резонансная частота;
  • повышенная виброустойчивость и помехозащищенность;
  • простотав обучении и обслуживании;
  • высокая надежность и достоверность получаемых результатов;
  • высокая температурная стабильность, позволяющая проводить длительные манипуляции с отдельными группами атомов;
  • высокая скорость сканирования.

Комплект поставки:

  • блок пъезоманипуляторов;
  • блок управления;
  • программное обеспечение;
  • руководство пользователя;
  • комплект инструментов и тестовых образцов;
  • паспорт.
Разрешение
атомарное, молекулярное
Поле сканирования (мкм)
5 х 5 х 3
Шаг сканирования в плоскости образца в полном поле/ в режиме 1:10, (нм)
0,08/0,008
Диапазон высот (мкм)
1±0,2
Устанавливаемые параметры
- напряжение на туннельном зазоре (В)
0±2,3
- туннельный ток (пА)
60 … 5000
Шаг задания (измерения) напряжение туннельного зазора (мВ)
0,04
Размер образца (мм)
8 х 8 х (0,5…4,0)
Параметры сигнала для модуляции туннельного промежутка:
- форма сигнала произвольная программнозадаваемая
 - частота (кГц) 10 … 100
 - глубина модуляции (пм) ± (1...100)
Время сканирования кадра 3*3 нм с атомарным разрешением, не более (сек)
7
Время сканирования кадра 5*5 мкм, не более (мин)
4
Время выхода системы на рабочий режим, не более (мин) 2
 Режимы работы:
 - режим сканирования по постоянному току;
 - режим сканирования с постоянной высотой;
 - режим измерения шумовой характеристики поверхности;
 - режим измерения вольт-амперной характеристики поверхности;
 - режим измерения h-амперной характеристики поверхностию.

 

Дополнительные материалы

  • Нанотехнологический комплекс "УМКА"
  • Нанотехнологический комплекс "Умка-02-Е"
  • Нанотехнологический комплекс "Умка-02-L"
  • Мультимедиа-презентации комплекса
  • Отзыв  концерна "Наноиндустрия" о сотрудничестве с СМ-Консалт
  • Отзыв на применение сканирующего туннельного микроскопа «Умка», установленного в Московском государственном университете им. М. В. Ломоносова 
  • Отзыв на нанотехнологический комплекс «Умка», установленный в Кубанском государственном университете
  • Статьи о нанотехнологиях на нашем сайте

 

03.02.2009


Copyright © 2009 СМ Консалт | | www.cmcons.com | Карта сайта Rambler's Top100